Создать обращение в службу поддержки пользователей
Обращение успешно создано! Ему присвоен номер 0.
На адрес Вашей электронной почты отправлено письмо о регистрации обращения. Вы можете ответить на него, если хотите предоставить дополнительную информацию или прикрепить файлы.
Произошла ошибка при создании обращения. Попробуйте перезагрузить страницу и заново создать обращение.

Подтверждение выхода

Вы действительно хотите завершить сессию?
ИСТИНА ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
  • Область интересов
  • Публикации
  • НИР и НИОКР
  • Доклады
  • Учебная работа
  • Инновации
  • Прочее
  • Все результаты
Удаление сотрудника
Вы действительно хотите удалить сотрудника?
Удалить
AlexandrM58
Макаров Александр Михайлович AlexandrM58

Петрозаводский государственный университет

IstinaResearcherID (IRID): 540016559
–

Статьи в журналах

    • 2024 Hysteretic Room‐Temperature Magnetic Bistability of the Crystalline 4,7‐Difluoro‐1,3,2‐Benzodithiazolyl Radical
    • Makarov Alexander Yu, Buravlev Alexander A., Romanenko Galina V., Bogomyakov Artem S., Zakharov Boris A., Morozov Vitaly A., Sukhikh Alexander S., Shundrina Inna K., Shundrin Leonid A., Irtegova Irina G., Cherepanova Svetlana V., Bagryanskaya Irina Yu, Nikulshin Pavel V., Zibarev Andrey V.
    • в журнале ChemPlusChem, издательство WILEY-VCH (INC, 605 THIRD AVE, NEW YORK, USA, NY, 10158-0012) DOI
    • 2021 Cell stiffness and ROS level alterations in living neurons mediated by β-amyloid oligomers measured by scanning ion-conductance microscopy
    • Suchalko Oleg, Timoshenko Roman, Vaneev Alexander, Kolmogorov Vasilii, Savin Nikita, Klyachko Natalia, Barykin Evgeny, Gorbacheva Lyubov, Maksimov Georgy, Kozin Sergei, Erofeev Alexander, Korchev Yuri, Novak Pavel, Edwards Christopher, Majouga Alexander, Makarov Alexander, Gorelkin Peter
    • в журнале Microscopy and Microanalysis, издательство Cambridge University Press (United Kingdom), том 27, № S1, с. 500-502 DOI

ФНКЦ РР
© 2011-2025 Лаборатория 404. НИИ механики МГУ.
Правила пользования
Помощь
Создать обращение Обратная связь